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“SEM 微觀圖像AI全鏈智能分析”是材料科學、半導體、地質等領域的核心技術,解決了微觀結構智能解讀和全局視野高分辨率成像兩大痛點,對科學研究具有重要意義。
學校特邀請惠然科技有限公司就該圖像處理相關技術開展交流座談活動,歡迎感興趣的師生積極參加。現將有關事項通知如下:
一、交流時間
2026年4月23日(星期四)下午2:30
二、交流地點
分析測試中心202室
三、聯系方式
聯系人:何老師、張老師
聯系電話:83656307
實驗室與設備管理處(分析測試中心)
2026年4月22日